rtas_test_top本版本中的采样率配置沿用原始采样率值,不使用载板端换算后的实际采样率。后续烧录和调试时,bit 文件与同目录下的 ltx 文件应配套使用。

选择tools->Generate Memory Configuration File。

进入硬件固化文件生成界面。我们这里先选择使用的存储器型号。点击Memory Part旁边的···,选择对应的flash型号。我们当前版本的子卡型号为XC7A100T-2FGG484I,查看对应的硬件文档,可以找到flash型号。

硬件文档内显示了我们flash型号和接线。因此储存器型号此处应该选择s25fl256sxxxxxx0-spi-x1_x2_x4。

之后,设置文件保存路径和文件名,设置bit文件路径,勾选Write Checksum、Disable bit swapping、Overwrite。我们这里选择rtas_test_top_original_sample_rate_20260818.bit作为文件名,然后选择合适的路径,再点击OK,生成子卡程序固化文件swapping、Overwrite。我们这里选择rtas_test_top_original_sample_rate_20260818.mcn。

完成之后,我们将JTAG连接器连接子卡硬件,然后打开硬件管理。我们右键点击硬件型号,选择Add Configuration Memory Device.

进入后,我们同样选择对应flash型号,点击···选择s25fl256sxxxxxx0-spi-x1_x2_x4。
完成添加后,我们再右键点击添加的硬件,选择固化配置文件,选择我们生成的mcn文件,点击OK即可完成烧录。

另外,当前我们已经将mcn文件放在FPGA/SubBoard/20260818_original_sample_rate/目录下,方便后续使用,后续需要固化,无需重新生成mcn文件,可以直接使用该文件。
烧录完毕,看到xc7a100t后面显示Programmed,表示烧录成功。我们再拔下JTAG烧录器,载板断电后重启上电,烧录的子卡程序即可应用。
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